Bibliografie

(eng): Descriptive and robust features based on wavelet transform coefficients are proposed for a multiscale thin film image analysis. The features are based on one- and two-dimensional histograms of the wavelet transform coefficients and they can be calculated for every scale of the wavelet decomposition. A one-dimensional histogram model is extended to describe also two-dimensional histograms, by means of calculating marginal histograms and by sampling the two-dimensional histograms in orientation. A computer experiment has been performed to demonstrate correspondence of the derived features to various physical phenomena.

(cze): V publikaci jsou navrženy robustní a popisné příznaky pro multiškálovou analýzu fotografií tenkých vrstev založené na koeficientech waveletové transformace. Příznaky jsou založeny na jedno- a dvou-rozměrných histogramech koeficientů, které se mohou počítat na každé škále waveletového rozkladu. Model jednorozměrného histogramu je rozšířen pro popis histogramu dvourozměrného, prostřednictvím výpočtu marginálních histogramů a vzorkováním dvourozměrných histogramů v orientaci. Provedli jsme počítačový experiment a demonstrovali korespondenci odvozených příznaků s různými fyzikálními jevy.